Определение состава и свойств веществ

ПЭМ-125К высокоразрешающий электронный микроскоп

          Предназначен: для фундаментальных исследований. Позволяет исследовать микроструктуру и фазовый состав объектов в нанотехнологиях, материаловедении, кристаллографии, геологии, микроэлектронике, биологии, медицине и др. областях, наблюдать и фотографировать изображение объектов в широком диапазоне увеличений, получать дифракционные картины, исследовать объекты при их наклоне и вращении с помощью гониометрического устройства.

 

Технические характеристики

Параметры

ПЭМ-125К высокоразрешающий электронный микроскоп

Разрешающая способность, nm по кристаллической решетке/по точкам 0,2/0,37
Диапазон электронно-оптических увеличений, × 50...1000000 31 ступень
Максимальный угол наклона объекта гониометром, ° ±60
Ускоряющее напряжение, kV 25...125
Длина дифракционной камеры, mm 100...5000 11 ступеней
Угол наклона электронного пучка на объекте, ° 4
Потребляемая мощность, kVA, не более 5,5
Габаритные размеры, мм, не более 1220х2100х2000
Общая масса микроскопа, кг, не более 1700

 телефон/факс (8635) 22-76-49, телефон (8635) 26-98-90


Copyright (c) "Spektr". All rights reserved.

Besucherzahler russian girl
счетчик посещений